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文化遗产影响评估方法与应用
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包装:平装
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出版社:华东理工大学
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ISBN:9787562873105
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作者:冯艳|责编:左金萍
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页数:218
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出版日期:2023-11-01
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印刷日期:2023-11-01
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开本:16开
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版次:1
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印次:1
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字数:290千字